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儀器簡(jiǎn)介： BI-2010粘度檢測(cè)器采用毛細(xì)管全橋式設(shè)計(jì)，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測(cè)量時(shí)間等特點(diǎn)，其溫控可從室溫達(dá)到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，對(duì)樣品進(jìn)行同樣校正，從而得到真實(shí)分子量和結(jié)構(gòu)信息。特征粘度的檢測(cè)結(jié)合Mark－Houwink曲線，得到分子機(jī)構(gòu)如枝接密度，...

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示差折射儀產(chǎn)品型號(hào)：BI-DNDC

儀器簡(jiǎn)介： BI-DNDC示差折射儀按測(cè)量方式區(qū)分：在靜態(tài)方式下是測(cè)量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器（2～2.5mL）直接進(jìn)樣，樣品溶液濃度范圍0.1～10mg/mL。在動(dòng)態(tài)方式下作為凝膠色譜系統(tǒng)的在線示差檢測(cè)器。采用進(jìn)樣閥進(jìn)樣，由蠕動(dòng)泵或HPLC泵驅(qū)動(dòng)。

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圓盤式離心/沉降粒度儀產(chǎn)品型號(hào)：BI-DCP/BI-XDC

儀器簡(jiǎn)介： BI-DCP/ BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度的數(shù)字式電機(jī)控制，是具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率非常高的測(cè)量?jī)x器。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。

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廣角動(dòng)靜態(tài)激光光散射儀產(chǎn)品型號(hào)：BI-200SM

儀器簡(jiǎn)介：廣角激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過動(dòng)態(tài)光散射的方法可以測(cè)量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態(tài)光散射的方法可測(cè)量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第.二維里系數(shù)。經(jīng)國內(nèi)外眾多實(shí)驗(yàn)室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠...

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亞微米/納米激光粒度儀產(chǎn)品型號(hào)：BI-90Plus

儀器簡(jiǎn)介： 90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動(dòng)態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測(cè)試儀器。動(dòng)態(tài)光散射原理：由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動(dòng)，使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動(dòng)。采用數(shù)字相關(guān)器技術(shù)處理脈沖信號(hào)，可以得到顆粒運(yùn)動(dòng)的擴(kuò)散信息后，進(jìn)而利用Stokes－Ei...

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納米激光粒度儀Zeta電位分析儀產(chǎn)品型號(hào)：90Plus PALS

儀器簡(jiǎn)介：90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準(zhǔn)測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)，比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍。

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納米激光粒度儀Zeta電位分析儀產(chǎn)品型號(hào)：Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀

儀器簡(jiǎn)介：Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，硬件PALS技術(shù)徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精準(zhǔn)測(cè)量，是功能強(qiáng)...

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主營產(chǎn)品：

Chatillon測(cè)力計(jì)，納米激光粒度儀，摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)，自動(dòng)熔點(diǎn)儀，Park Systems原子力顯微鏡，英國邁菱Mecmesin材料試驗(yàn)機(jī)，聚合物測(cè)試和樣品制備系統(tǒng)，密度儀，折光儀，旋光儀，卡爾費(fèi)休水分儀，包材檢測(cè)用熱封儀，Julabo恒溫水浴，愛色麗色度計(jì)，梅特勒熱分析儀

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